Microelectronics and reliability : 1990.
Material type: TextPublication details: Oxford ; New York : Pergamon Press, c1964-Description: v. : ill. ; 26-27 cmISSN:- 0026-2714
- Issues for 1998- have title: Microelectronics reliability
- 621.381/05
- TK7870 .M456
Item type | Current library | Call number | Vol info | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
პერიოდიკა | ეროვნული სამეცნიერო ბიბლიოთეკა 1 საცავი. 1 კორპ. | 621.382.8(05) M65 (Browse shelf(Opens below)) | Vol. 30 no. 1-4 (1990) | პ21558 | შესამოწმებელია | 2016-37837 | ||
პერიოდიკა | ეროვნული სამეცნიერო ბიბლიოთეკა 1 საცავი. 1 კორპ. | 621.382.8(05) M65 (Browse shelf(Opens below)) | Vol. 30 no. 6 (1990) | პ21558 | შესამოწმებელია | 2016-37838 |
Title from cover.
Chemical abstracts 0009-2258
SERBIB/SERLOC merged record
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.