Normal view MARC view ISBD view

Методы измерения параметров полупроводниковых приборов /

Методы измерения параметров полупроводниковых приборов / Пер. с англ. Под ред. канд. физ.-мат. наук М. И. Иглицына. - Оборонгиз, 1961. - 263 с. : черт. - Полупроводниковые материалы и приборы. .

Доп. тит. л.: Transistor technology. Ed. by H. E. Bridgers a.o. Princeton a. o., Nostrand co., 1958

Библиогр. в конце глав.

Subjects--Index Terms: ნახევარგამტარული ხელსაწყოები პარამეტრების გაზომვის მეთოდები

Universal Decimal Class. No.: 621.315.592

Place hold
Print
Add to your cart (remove)
Suggest for purchase
Save record
BIBTEX Dublin Core ISBD MARC (non-Unicode/MARC-8) MARCXML MODS (XML) RIS MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard)
More searches

Search for this title in:
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) CERL Thesaurus author search Author search in ORCID registry Wikipedia author search ავტორის ძიება ეროვნ. ბიბლიოთეკაში (NPLG) VIVO beta search for author საქპატენტი. გამოგონების ძიება ძიება თსუს ბიბლიოთეკებში

National Science Library of Georgia

Методы измерения параметров полупроводниковых приборов /