Normal view MARC view ISBD view

Characterization and production monitoring of sputtered thin films for optical applications /

Georgson, Mikael

Characterization and production monitoring of sputtered thin films for optical applications / Mikael Georgson. - Uppsala : Universitet, 1990. - 32 S. : fig. - Acta Universitatis Upsaliensis. Comprehensive summaries of Uppsala dissertations from the Faculty of Science ; 284 .

Zugl.: Uppsala, Univ., Diss., 1990.

Includes bibliographies.

ISBN: 9155426336

Subjects--Index Terms: ფიზიკა მატერიის ფიზიკური ბუნება მოლეკულური სისტემის სტრუქტურა და თვისებები თეზისები დისერტაციები

Dewey Class. No.: 013.378485

Universal Decimal Class. No.: 539.2(043)

Print
Add to your cart (remove)
Suggest for purchase
Save record
BIBTEX Dublin Core ISBD MARC (non-Unicode/MARC-8) MARCXML MODS (XML) RIS MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard)
More searches

Search for this title in:
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) CERL Thesaurus author search Author search in ORCID registry Wikipedia author search ავტორის ძიება ეროვნ. ბიბლიოთეკაში (NPLG) VIVO beta search for author საქპატენტი. გამოგონების ძიება ძიება თსუს ბიბლიოთეკებში

National Science Library of Georgia

Characterization and production monitoring of sputtered thin films for optical applications /