Normal view MARC view ISBD view

Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках /

Александров, Леонид Наумович.

Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках / Л. Н. Александров, М. И. Зотов; Отв. ред. Л.С. Смирнов. - Наука. Сиб. отд-ние, 1979. - 159 с. ил.

Библиогр.: с. 149-158 (188 назв.)

В надзаг.: АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников

Subjects--Index Terms: ფიზიკა მატერიის აგებულება მასალათა გამძლეობა მოლეკულათშორისი ძალები შიდა ხახუნი ელექტროტექნიკა ნახევარგამტარი

Universal Decimal Class. No.: 539.67+621.315.592

Place hold
Print
Add to your cart (remove)
Suggest for purchase
Save record
BIBTEX Dublin Core ISBD MARC (non-Unicode/MARC-8) MARCXML MODS (XML) RIS MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard)
More searches

Search for this title in:
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) CERL Thesaurus author search Author search in ORCID registry Wikipedia author search ავტორის ძიება ეროვნ. ბიბლიოთეკაში (NPLG) VIVO beta search for author საქპატენტი. გამოგონების ძიება ძიება თსუს ბიბლიოთეკებში

National Science Library of Georgia

Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках /