Normal view MARC view ISBD view

Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок /

Васичев, Борис Никитович

Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок / Б. Н. Васичев. - Москва : Металлургия, 1977.

Universal Decimal Class. No.: 621.382

Print
Add to your cart (remove)
Suggest for purchase
Save record
BIBTEX Dublin Core ISBD MARC (non-Unicode/MARC-8) MARCXML MODS (XML) RIS MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard)
More searches

Search for this title in:
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) CERL Thesaurus author search Author search in ORCID registry Wikipedia author search ავტორის ძიება ეროვნ. ბიბლიოთეკაში (NPLG) VIVO beta search for author საქპატენტი. გამოგონების ძიება ძიება თსუს ბიბლიოთეკებში

National Science Library of Georgia

Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок /