Методы измерения основных параметров полупроводников : [Учеб. пособие для вузов по спец. "Физика и технология материалов и компонентов электрон. техники"] / С. И. Рембеза.
Material type:
TextLanguage: Russian Publication details: Воронеж : Изд-во Воронеж. ун-та, 1989.Description: 221,[1] с. : ил. 21 смISBN: - 5745501324
- 29.19
- 16.4.11
| Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
წიგნი
|
ეროვნული სამეცნიერო ბიბლიოთეკა 2 კორპ. 2, საცავი | 621.315.592(075.8) (Browse shelf(Opens below)) | 2К3210 | Available | 2017-4617 |
Browsing ეროვნული სამეცნიერო ბიბლიოთეკა 2 shelves, Shelving location: კორპ. 2, საცავი Close shelf browser (Hides shelf browser)
| No cover image available | No cover image available | No cover image available | No cover image available | No cover image available | ||||
| 621.315.592 Полупроводники / | 621.315.592 Полупроводники - германий и кремний / | 621.315.592(035) Справочник по полупроводниковым приборам / | 621.315.592(075.8) Методы измерения основных параметров полупроводников : | 621.315.592-416 Тонкие пленки антимонида индия : | 621.315.592:537.311.322](075) Основы физики полупроводниковых приборов : | 621.315.59+621.315.61](075.8) ნახევრად გამტარი და დიელექტრიკული მასალების ტექნოლოგია : |
Библиогр.: с. 221-222 (22 назв.).
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.