Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем / А. А. Чернышев .
Material type:
TextLanguage: Russian Publication details: Москва: Радио и связь, 1988.Description: 254, [1] с. ил. 22 смISBN: - 525600042X
| Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
წიგნი
|
ეროვნული სამეცნიერო ბიბლიოთეკა 2 კორპ. 2, საცავი | 621.382.019.3 (Browse shelf(Opens below)) | 2R82177 | Available | 2018-2400 |
Browsing ეროვნული სამეცნიერო ბიბლიოთეკა 2 shelves, Shelving location: კორპ. 2, საცავი Close shelf browser (Hides shelf browser)
Библиогр.: с. 249-252.
В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факторов и условий применения на надежность. Подробно рассмотрены дефекты, возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Изложены методы обеспечения их надежной работы в различной радиоэлектронной аппаратуре. Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся производством полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и их применением. Она будет полезна студентам старших курсов соответствующих специальностей.
There are no comments on this title.