National Science Library of Georgia

Image from Google Jackets

თხელ აფსკებში მექანიკური დაძაბულობის ნიშნის განსაზღვრის ხერხი თამაზ ყალაბეგიშვილი, გოჩა აბრამიშვილი, მაყვალა გალუსტაშვილი, ვახტანგ კვაჭაძე, თამაზ პავლიაშვილი.

Contributor(s): Material type: TextTextLanguage: ge ქ. მცხეთა : საქპატენტი, პატენტის გამოქვეყ.თარიღი და ბიულეტენის ნომერი (45): 2011 12 12 #23Description: გამოგონებაზე პატენტის სრული ტექსტი - 4 გვ. ; მუხლები: 1დამოუკიდებელიPatent information: 5351, B, 2011-12-12, published, SakpatentiOther title:
  • = METHOD OF DEFINITION OF STRAIN SIGN IN THIN FILMS გამოგონების პატენტი = Patent for invention : (11) GE P 2011 5351 B : (51) G 01 L 1/00 (IPC, 2006)
Subject(s): Other classification:
  • G01L1/00;
  • H 01 L 21/66
Online resources: Summary: ხერხი ითვალისწინებს ფუძეშრეზე დაფენილი აფსკის დაძაბულობის ნიშნის დადგენას ვიზუალური დაკვირვების საფუზველზე. აფსკებზე ინდენტირების მეთოდით კეთდება ანაბეჭდები და ხდება მიკროსკოპის საშუალებით მათი დიაგონალების ზომების ცვლილებებზე დროში დაკვირვება, რის შედეგადაც განისაზღვრება მექანიკური დაძაბულობის ნიშანი.
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Holdings
Item type Current library Call number Copy number Status Date due Barcode
პატენტები პატენტები ეროვნული სამეცნიერო ბიბლიოთეკა 2 კორპ. 2, საცავი G 01 L 1/00 (Browse shelf(Opens below)) P 2011 5351 B Not for loan 2015-11133

– პატენტის სრული აღწერილობისა და ტექსტის მოსანახად ქართულ ენაზე დააწკაპეთ მარჯვენა მხარეს ბმულზე „სხვა ძიებები“ და შემდეგ საქპატენტის შესაბამის ბმულზე.

ხერხი ითვალისწინებს ფუძეშრეზე დაფენილი აფსკის დაძაბულობის ნიშნის დადგენას ვიზუალური დაკვირვების საფუზველზე. აფსკებზე ინდენტირების მეთოდით კეთდება ანაბეჭდები და ხდება მიკროსკოპის საშუალებით მათი დიაგონალების ზომების ცვლილებებზე დროში დაკვირვება, რის შედეგადაც განისაზღვრება მექანიკური დაძაბულობის ნიშანი.

There are no comments on this title.

to post a comment.
Copyright © 2023 Sciencelib.ge All rights reserved.