ასფერული ლინზის პროფილის უკონტაქტო გაზომვის ხერხი და მოწყობილობა ირაკლი კორძახია, გიორგი გოდერძიშვილი, ზაქარია ავალიანი, ჯემალ ავალიანი, მარტინ ჩხეიძე, პაატა ჯოხაძე.
Material type:
TextLanguage: ge ქ. მცხეთა : საქპატენტი, პატენტის გამოქვეყ.თარიღი და ბიულეტენის ნომერი (45): 2000 02 10 # 3Description: გამოგონებაზე პატენტის სრული ტექსტი - 7 გვ. ; 2 დამოუკ. ; 3 დამოკ. ; მ. ; 1 ფიგPatent information: 2119, B, 2000-02-10, published, SakpatentiOther title: - = Method and Device for Non-Contact Measurement of Aspherical Lens Profile გამოგონების პატენტი = Patent for invention : (11) GE P 2000 2119 B : (51) G 01 B 11/24 (IPC, 2006)
- G 01 B 11/24
- G 01 B 9/02
| Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
პატენტები
|
ეროვნული სამეცნიერო ბიბლიოთეკა 1 საცავი. 1 კორპ. | G 01 B 11/24 (Browse shelf(Opens below)) | P 2000 2119 B | Not for loan | 2015-17979 |
პატენტის სრული აღწერილობისა და ტექსტის მოსანახად ქართულ ენაზე დააწკაპეთ მარჯვენა მხარეს ბმულზე „სხვა ძიებები“ და შემდეგ საქპატენტის შესაბამის ბმულზე.
1.ტექნიკური შედეგი
ლინზის პროფილის გაზომვის სიზუსტის ამაღლება.
2.არსი
მოწყობილობა შეიცავს სინათლის წყაროს 1, სინათლის სხივის გამყოფს 2, ელექტროოპტიკურ კრისტალებს 4 და 9, რომლებიც შეერთებულია ძაბვის წყაროებთან. ლინზის 5 ფოკუსურ წერტილში მოთავსებულია ეკრანი 6 სხივების ინტერფერენციული სურათის მისაღებად. ეკრანზე განლაგებულია ფოტოდეტექტორები, რომლებიც შეერთებულია სიგნალების დამუშავების მოწყობილობასთან. ეკრანზე მიღებულ ზედდებულ სხივებს შორის ფაზათა სხვაობის კომპენსაციით ელექტროოპტიკურ კრისტალებზე მოდებული ძაბვის სიდიდიდეების მიხედვით ადგენენ ასფერული ლინზის პროფილს.
3.გამოყნების სფერო
საზომი ტექნიკა.
There are no comments on this title.