Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии / А. А. Валиев, О. А. Кайбышев, Р. З. Валиев.
Material type: TextМосква, 1991ISBN:- 5020001953
Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
---|---|---|---|---|---|---|---|
წიგნი | ეროვნული სამეცნიერო ბიბლიოთეკა 1 საცავი. 1 კორპ. | 2R754375 | შესამოწმებელია | 2023-565001953401634 |
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.