Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов / АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т неорган. химии ;В. И. Лисойван, С. А. Громилов; Отв. ред. Д. М. Хейкер.

By:

Contributor(s):

Material type: Text

TextLanguage: Russian Новосибирск : Наука, 1989Description: 239, [4] с. : илISBN:

Subject(s):

Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.

Holdings
Item type	Current library	Call number	Copy number	Status	Date due	Barcode
წიგნი	ეროვნული სამეცნიერო ბიბლიოთეკა 2 კორპ. 2, საცავი	548.734.3 (Browse shelf(Opens below))	2К1576	Available		2016-49785

Previous	No cover image available	No cover image available			No cover image available			Next
Previous	548.7(035) Выявление тонкой структуры кристаллов :	548.73(075.8) Применение статистических методов в рентгеновской кристаллографии /	548.73(082) Методы структурного анализа :	548.734.3 Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов /	548.734.3 Интерпретация порошковых рентгенограмм /	548.73:549.6 Методы дифракционных исследований кристаллических материалов :	548.735+539.21](075.8) Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев /	Next

Библиогр.: с. 224-240.

There are no comments on this title.

to post a comment.