TY  - BOOK
AU  - Черепин В.Т.
AU  - Васильев М.А.
ED  - Академия наук Украинской ССР
TI  - Методы и приборы для анализа поверхности материалов: Справочник 
PY  - 1982///
CY  - Киев
PB  - Наукова думка
KW  - Твердые тела
KW  - Поверхностные явления
KW  - ფიზიკა
KW  - ზედაპირული მოვლენები
KW  - ზედაპირული მასალები
KW  - მყარი სხეულები
KW  - ცნობარი
N1  - Библиогр.: с.360-395
N2  - В справочнике систематизированы методы анализа химического состава, атомной и электронной структуры поверхности материалов, основанные на эмиссионных явлениях, которые возникают в процессе нагрева, приложения электрического или магнитного поля, а также при взаимодействии различного рода частиц (электронов, ионов, позитронов и др.) и электромагнитного излучения с поверхностью. Приведены схемы приборов, с помощью которых реализуются эти методы. Для облегчения понимания сути методов при описании каждого из них приведены также необходимые теоретические сведения. Рассчитан на научных сотрудников и инженеров, работающих в областях физики твердого тела; физики, химии и механики поверхности; микроэлектроники; металлургии и металловедения; геохимии и физики минералов, а также на преподавателей, аспирантов и студентов старших курсов университетов и технических вузов
ER  -