Ben-Lamine, Abdelmottaleb

Contribution à l'étude des défauts réticulaires dans V3Si [VSI] (structure A15) par microscopie électronique / Abdelmottaleb Ben-Lamine. - [S. a.]. - 240 p. : fig.

Thesis/Dissertation.

Includes bibliogr. references.

ფიზიკა ოპტიკა ელექტრონული მიკროსკოპი

535(043)