Ben-Lamine, Abdelmottaleb  <br/><br/>
Contribution à l'étude des défauts réticulaires dans V3Si [VSI] (structure A15) par microscopie électronique / 
Abdelmottaleb Ben-Lamine. 
 -  [S. a.]. 
 - 240 p. :  fig. 
<br/><br/> Thesis/Dissertation. 
<br/><br/>Includes bibliogr. references. 
<br/><br/><label>Subjects--Index Terms: </label>ფიზიკა ოპტიკა ელექტრონული მიკროსკოპი 
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>535(043)