TY  - BOOK
AU  - Ben-Lamine, Abdelmottaleb 
TI  - Contribution à l'étude des défauts réticulaires dans V3Si [VSI] (structure A15) par microscopie électronique
PY  - 0000///[S. a.]
CY  - [S. l.], 
KW  - ფიზიკა
KW  - ოპტიკა
KW  - ელექტრონული მიკროსკოპი
N1  - Thesis/Dissertation; Includes bibliogr. references
ER  -