თხელ აფსკებში მექანიკური დაძაბულობის ნიშნის განსაზღვრის ხერხი 
 = METHOD OF DEFINITION OF STRAIN SIGN IN THIN FILMS  გამოგონების პატენტი = Patent for invention : (11) GE P 2011 5351 B : (51) G 01 L 1/00 (IPC, 2006) / 
თამაზ ყალაბეგიშვილი, გოჩა აბრამიშვილი, მაყვალა გალუსტაშვილი, ვახტანგ კვაჭაძე, თამაზ პავლიაშვილი. 
 - ქ. მცხეთა :  საქპატენტი,  პატენტის გამოქვეყ.თარიღი და ბიულეტენის ნომერი (45): 2011 12 12 #23. 
 - გამოგონებაზე პატენტის სრული ტექსტი - 4 გვ. ;  მუხლები: 1დამოუკიდებელი. 
<br/><br/> – პატენტის სრული აღწერილობისა და ტექსტის მოსანახად ქართულ ენაზე დააწკაპეთ მარჯვენა მხარეს ბმულზე „სხვა ძიებები“ და შემდეგ საქპატენტის შესაბამის ბმულზე. 
<br/><br/> ხერხი ითვალისწინებს ფუძეშრეზე დაფენილი აფსკის დაძაბულობის ნიშნის დადგენას ვიზუალური დაკვირვების საფუზველზე. აფსკებზე ინდენტირების მეთოდით კეთდება ანაბეჭდები და ხდება მიკროსკოპის საშუალებით მათი დიაგონალების ზომების ცვლილებებზე დროში დაკვირვება, რის შედეგადაც განისაზღვრება მექანიკური დაძაბულობის ნიშანი. 
<br/><br/><label>Patent No.: </label>5351  ge  B  2011-12-12  published  Sakpatenti 
<br/><br/><label>Subjects--Index Terms: </label>ოპტიკა მიკროელექტრონული ტექნოლოგია აფსკი