ასფერული ლინზის პროფილის უკონტაქტო გაზომვის ხერხი და მოწყობილობა 
 = Method and Device for Non-Contact Measurement of Aspherical Lens Profile  გამოგონების პატენტი = Patent for invention : (11) GE P 2000 2119 B : (51) G 01 B 11/24 (IPC, 2006) / 
ირაკლი კორძახია, გიორგი გოდერძიშვილი, ზაქარია ავალიანი, ჯემალ ავალიანი, მარტინ ჩხეიძე, პაატა ჯოხაძე. 
 - ქ. მცხეთა :  საქპატენტი,  პატენტის გამოქვეყ.თარიღი და ბიულეტენის ნომერი (45): 2000 02 10 # 3. 
 - გამოგონებაზე პატენტის სრული ტექსტი - 7 გვ. ;  2 დამოუკ. ; 3 დამოკ. ; მ. ; 1 ფიგ. 
<br/><br/> პატენტის სრული აღწერილობისა და ტექსტის მოსანახად ქართულ ენაზე დააწკაპეთ მარჯვენა მხარეს ბმულზე „სხვა ძიებები“ და შემდეგ საქპატენტის შესაბამის ბმულზე. 
<br/><br/> 1.ტექნიკური შედეგი<br/>ლინზის პროფილის გაზომვის სიზუსტის ამაღლება.<br/>2.არსი<br/>მოწყობილობა შეიცავს სინათლის წყაროს 1, სინათლის სხივის გამყოფს 2, ელექტროოპტიკურ კრისტალებს 4 და 9, რომლებიც შეერთებულია ძაბვის წყაროებთან. ლინზის 5 ფოკუსურ წერტილში მოთავსებულია ეკრანი 6 სხივების ინტერფერენციული სურათის მისაღებად. ეკრანზე განლაგებულია ფოტოდეტექტორები, რომლებიც შეერთებულია სიგნალების დამუშავების მოწყობილობასთან. ეკრანზე მიღებულ ზედდებულ სხივებს შორის ფაზათა სხვაობის კომპენსაციით ელექტროოპტიკურ კრისტალებზე მოდებული ძაბვის სიდიდიდეების მიხედვით ადგენენ ასფერული ლინზის პროფილს.<br/>3.გამოყნების სფერო<br/>საზომი ტექნიკა. 
<br/><br/><label>Patent No.: </label>2119  ge  B  2000-02-10  published  Sakpatenti 
<br/><br/><label>Subjects--Index Terms: </label>სინათლის წყარო ასფერული ლინზა საზომი ტექნიკა