TY  - BOOK
AU  - კორძახია, ირაკლი
AU  - გოდერძიშვილი, გიორგი
AU  - ავალიანი, ზაქარია
AU  - ავალიანი, ჯემალ
AU  - ჩხეიძე, მარტინ
AU  - ჯოხაძე, პაატა
ED  - საქართველოს ინტელექტუალური საკუთრების ეროვნული ცენტრი - საქპატენტი
TI  - ასფერული ლინზის პროფილის უკონტაქტო გაზომვის ხერხი და მოწყობილობა
PY  - 0000///პატენტის გამოქვეყ.თარიღი და ბიულეტენის ნომერი (452000/// 02 10 # 3
CY  - ქ. მცხეთა
PB  - საქპატენტი
KW  - სინათლის წყარო
KW  - ასფერული ლინზა
KW  - საზომი ტექნიკა
N1  - პატენტის სრული აღწერილობისა და ტექსტის მოსანახად ქართულ ენაზე დააწკაპეთ მარჯვენა მხარეს ბმულზე „სხვა ძიებები“ და შემდეგ საქპატენტის შესაბამის ბმულზე
N2  - 1.ტექნიკური შედეგი
ლინზის პროფილის გაზომვის სიზუსტის ამაღლება.
2.არსი
მოწყობილობა შეიცავს სინათლის წყაროს 1, სინათლის სხივის გამყოფს 2, ელექტროოპტიკურ კრისტალებს 4 და 9, რომლებიც შეერთებულია ძაბვის წყაროებთან. ლინზის 5 ფოკუსურ წერტილში მოთავსებულია ეკრანი 6 სხივების ინტერფერენციული სურათის მისაღებად. ეკრანზე განლაგებულია ფოტოდეტექტორები, რომლებიც შეერთებულია სიგნალების დამუშავების მოწყობილობასთან. ეკრანზე მიღებულ ზედდებულ სხივებს შორის ფაზათა სხვაობის კომპენსაციით ელექტროოპტიკურ კრისტალებზე მოდებული ძაბვის სიდიდიდეების მიხედვით ადგენენ ასფერული ლინზის პროფილს.
3.გამოყნების სფერო
საზომი ტექნიკა
UR  - http://www.sakpatenti.gov.ge/ka/search_engine/search/1/
ER  -