Electron microscopy 1980 :  Vol. 3 : Analysis : proceedings of the seventh European congress on electron microscopy including the ninth international conference on X-ray optics and microanalysis, The Hague, The Netherlands, Aug. 24-29, 1980. 

 - Leiden,   1980. 
 - xxiii, 253 p. :  fig. 
<br/><br/>Includes bibliogr. references. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>9090001484 9789090001487 
<br/><br/><label>Subjects--Index Terms: </label>ელექტრობა ოპტიკა ელექტრონული ოპტიკა - კონფერენცია ელექტრონული მიკროსკოპი - კონფერენცია კონფერენციები 
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>537.533.35