01019nam a2200241 4500 0 4 udc 0 0 CPL CPL GEN 2019-09-12 0 537.533.35 2019-26982 2019-09-12 00:00:00 3E11988 2019-09-12 BK 503926 503924 Ge_NSL 20190912154311.0 190912m1980 ne ||||| |||| 00| 0 eng d 9090001484 9789090001487 eng 537.533.35 Electron microscopy 1980 : Vol. 3 : Analysis : proceedings of the seventh European congress on electron microscopy including the ninth international conference on X-ray optics and microanalysis, The Hague, The Netherlands, Aug. 24-29, 1980. Leiden, 1980. xxiii, 253 p. : fig. Includes bibliogr. references. ელექტრობა ოპტიკა ელექტრონული ოპტიკა - კონფერენცია ელექტრონული მიკროსკოპი - კონფერენცია კონფერენციები udc BK