Vol. 3 : Analysis : proceedings of the seventh European congress on electron microscopy including the ninth international conference on X-ray optics and microanalysis, The Hague, The Netherlands, Aug. 24-29, 1980 text ne 1980 monographic eng

print

xxiii, 253 p. : fig. Includes bibliogr. references. ელექტრობა ოპტიკა ელექტრონული ოპტიკა - კონფერენცია ელექტრონული მიკროსკოპი - კონფერენცია კონფერენციები 537.533.35 9090001484 9789090001487 190912 20190912154311.0