TY  - BOOK
TI  - Electron microscopy 1980: Vol. 3 : Analysis : proceedings of the seventh European congress on electron microscopy including the ninth international conference on X-ray optics and microanalysis, The Hague, The Netherlands, Aug. 24-29, 1980
SN  - 9090001484
PY  - 1980///
CY  - Leiden, 
KW  - ელექტრობა
KW  - ოპტიკა
KW  - ელექტრონული ოპტიკა - კონფერენცია
KW  - ელექტრონული მიკროსკოპი - კონფერენცია
KW  - კონფერენციები
N1  - Includes bibliogr. references
ER  -