Библиогр.: с. 266-270.

Приведены сведения о промышленных монокристаллах, систематизирована их терминология. Даны определения основных понятий, применяемых при технологической ориентировке кристаллических элементов. Изложены сведения по кристаллографии, рентгеновской дифракции, принципу рентгеновского контроля ориентировки, стандартной методике рентгендифракционных измерений, специальной рентгеновской аппаратуре и способам обеспечения единства мер при рентгендифракционных измерениях. Обобщен опыт метрологического обеспечения производства кристаллических элементов из кварца, ниобата и танталата лития в электронной промышленности на основе применения стандартных образцов кварцевых срезов и перспективы их применения. Проанализирован мировой уровень точности рентгендифракционных измерений. Приведены перспективные направления работ по повышению точности и производительности измерений срезов монокристаллов.Для научных работников, связанных с изготовлением кристаллических элементов.