Надежность радиоэлектронной аппаратуры / А. Д. Павлыченко, Г. Д. Сафронов, и др. ; Под общ. ред. канд. техн. наук А. С. Груничева.
Material type:![Text](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
ეროვნული სამეცნიერო ბიბლიოთეკა 2 კორპ. 2, საცავი | 621.396.6 (Browse shelf(Opens below)) | ს-7259 | Available | 2017-279670 |
лит-ра 142 с.
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.