Патентные исследования- фактор повышения технического уровня и еффективности разработок : Выпуск 3 / А. М. Бычков,Г.А. Глушков; НИИэкономики.
Material type: TextLanguage: Russian Series: Обзорная информация | Технология,организация производства и управленияМосква : НИИэкономики, 1986Description: 39 сSubject(s):Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
---|---|---|---|---|---|---|---|
წიგნი | ეროვნული სამეცნიერო ბიბლიოთეკა 2 კორპ. 2, საცავი | 621.4.002.5:088.8 (Browse shelf(Opens below)) | ПЛ 2089 | Available | 2016-37992 |
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.