000			03222nam a2200361 i 4500
001			RU\SPSTU\books\134055
003			Ge_NSL
005			20170301134055.0
008			021025t1982 xx a g 001 zyrus u
040			_c19013582 _d19013582 _ePSBO _ePSBO
041	0		_arus
080			_a539.21(035)
100	1		_aЧерепин В.Т. _qВалентин Тихонович
245	1		_aМетоды и приборы для анализа поверхности материалов : _bСправочник / _cВ.Т. Черепин, М.А. Васильев;Академия наук Украинской ССР. Институт металлофизики.
260			_aКиев : _bНаукова думка, _c1982.
300			_a399 с. _bил
504			_aБиблиогр.: с.360-395
520			_aВ справочнике систематизированы методы анализа химического состава, атомной и электронной структуры поверхности материалов, основанные на эмиссионных явлениях, которые возникают в процессе нагрева, приложения электрического или магнитного поля, а также при взаимодействии различного рода частиц (электронов, ионов, позитронов и др.) и электромагнитного излучения с поверхностью. Приведены схемы приборов, с помощью которых реализуются эти методы. Для облегчения понимания сути методов при описании каждого из них приведены также необходимые теоретические сведения. Рассчитан на научных сотрудников и инженеров, работающих в областях физики твердого тела; физики, химии и механики поверхности; микроэлектроники; металлургии и металловедения; геохимии и физики минералов, а также на преподавателей, аспирантов и студентов старших курсов университетов и технических вузов.
650			_aТвердые тела _xПоверхностные явления
653			_aფიზიკა
653			_aზედაპირული მოვლენები
653			_aზედაპირული მასალები
653			_aმყარი სხეულები
653			_aცნობარი
700	1		_aВасильев М.А. _qМихаил Алексеевич
710	2		_aАкадемия наук Украинской ССР _bИнститут металлофизики
942			_2udc _cREF
999			_c115740 _d115739