000			02922nam a2200313 i 4500
001			RU\SPSTU\books\164217
003			Ge_NSL
005			20230911093038.0
008			040310t1990 xx a z 000 zyrus u
020			_a5256007548
040			_c19013582 _d19013582 _ePSBO _ePSBO
041	0		_arus
080			_a548.5
100	1		_aСтасевич, В. Н. _qВладимир Николаевич _989911
245	1		_aТехнология монокристаллов / _cВ. Н. Стасевич.
260			_aМ. : _bРадио и связь, _c1990.
300			_a272 с. : _bил
504			_aБиблиогр.: с. 266-270.
520			_aПриведены сведения о промышленных монокристаллах, систематизирована их терминология. Даны определения основных понятий, применяемых при технологической ориентировке кристаллических элементов. Изложены сведения по кристаллографии, рентгеновской дифракции, принципу рентгеновского контроля ориентировки, стандартной методике рентгендифракционных измерений, специальной рентгеновской аппаратуре и способам обеспечения единства мер при рентгендифракционных измерениях. Обобщен опыт метрологического обеспечения производства кристаллических элементов из кварца, ниобата и танталата лития в электронной промышленности на основе применения стандартных образцов кварцевых срезов и перспективы их применения. Проанализирован мировой уровень точности рентгендифракционных измерений. Приведены перспективные направления работ по повышению точности и производительности измерений срезов монокристаллов.Для научных работников, связанных с изготовлением кристаллических элементов.
650			_aМонокристаллы _xВыращивание _989912
653			_aკრისტალოგრაფია
653			_aმონოკრისტალი
942			_2udc _cBK
999			_c116295 _d116294