000 01619nam a2200361 i 4500
999 _c119994
_d119993
001 001502358
003 RuMoRGB
005 20190628121912.0
008 020227s1989 ||| || u ||rus d
020 _a5020140201
_c2 р. 10 к.
035 _a(RuMoRKP)ru89-72742
040 _aRKP
_brus
_ePSBO
041 0 _arus
080 _a548.735+539.21](075.8)
084 _a29.19
_2rugasnti
084 _a16.4.11
_2rueskl
100 1 _aАфанасьев, Александр Михайлович
_9121654
245 1 0 _aРентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев /
_cА. М. Афанасьев, П. А. Александров, Р. М. Имамов.
260 _aМ. :
_bНаука,
_c1989.
300 _a151,[1] с. :
_bил.
_c22 см
500 _aРез.: англ.
504 _aБиблиогр.: с. 146-151 (226 назв.).
653 0 _aრენტგენის სხივები
653 0 _aკრისტალების დიფრაქცია
653 0 _aრენტგენო სტრუქტურული /დიფრაქციული/ ანალიზი
653 0 _aმყარი სხეულების ფიზიკა
653 0 _aსახელმძღვანელო
700 1 _aАлександров, Петр Анатольевич
_eавт.
_4aut
_9121655
700 1 _aИмамов, Рафик Мамедович
_eавт.
_4aut
_9121656
942 _2udc
_cBK