| 000 | 03049nam a2200349 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 999 |
_c124538 _d124537 |
||
| 001 | RU\SPSTU\books\133554 | ||
| 003 | Ge_NSL | ||
| 005 | 20190708140846.0 | ||
| 008 | 021018t1990 xx a z 000 zyrus u | ||
| 015 | _a90-56394 | ||
| 020 | _a5256004964 | ||
| 035 | _aru90-056394 | ||
| 040 |
_a19013582 _c19013582 _d19013582 _epsbo _ePSBO _ePSBO |
||
| 041 | 0 | _arus | |
| 080 | _a537.311.322+621.382 | ||
| 100 | 1 |
_4070 _aЛукьянчикова, Н. Б. _qНаталия Борисовна _9122854 |
|
| 245 | 1 |
_aФлуктуационные явления в полупроводниках и полупроводниковых приборах / _cН. Б. Лукьянчикова. |
|
| 260 |
_aМ. : _bРадио и связь, _c1990. |
||
| 300 |
_a295 с. : _bил. |
||
| 504 | _aБиблиогр.: с. 278-290. | ||
| 520 | _aРассмотрены современные методы теоретического анализа флуктуационных явлений в полупроводниках. Приведены рекомендации по их применению при исследовании шумовых характеристик различных приборов: фоторезисторов, полевых и биполярных транзисторов, фото- и светодиодоя, лавинно-пролегных диодов, транзисторных элементо-в микросхем и др. Показано, какая информация о нешумовых характеристиках и параметрах полупроводниковых приборов и материалов, а также о механизмах протекающих в них физических процессов содержится в результатах флуктуационных .исследований и как о'на расшифровывается. Изложены методы шумовой спектроскопии уровней, а также методы экспериментального 0'пределения источников шума в электронных приборах. Для научных работников, специализирующихся в области физики полупроводников, полупроводниковых приборов, микросхем и приборов оптоэлектроники. Табл. 5. Ил. 81. Библиогр. 271 назв. | ||
| 650 |
_aПолупроводники _xФлуктуации _9122855 |
||
| 650 |
_aПолупроводниковые приборы _xФлуктуации _9122856 |
||
| 653 | _aნახევარგამტარი მოწყობილობა | ||
| 653 | _aფლქუაცია | ||
| 942 |
_2udc _cBK |
||