| 000 | 01367nam a22002892i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 006347096 | ||
| 003 | ELAR | ||
| 005 | 20180125154617.0 | ||
| 008 | 121025s1961 ru ||||| |||||||| ||rus d | ||
| 035 | _a(RuMoELAR)1946-68-732478 | ||
| 040 |
_aRuMoRGB _brus _cELAR _ercr |
||
| 041 | 1 |
_arus _heng |
|
| 044 | _aru | ||
| 080 | _a621.315.592 | ||
| 245 | 0 | 0 |
_aМетоды измерения параметров полупроводниковых приборов / _cПер. с англ. Под ред. канд. физ.-мат. наук М. И. Иглицына. |
| 260 |
_aМосква : _bОборонгиз, _c1961. |
||
| 300 |
_a263 с. : _bчерт. |
||
| 490 | 0 | _aПолупроводниковые материалы и приборы. | |
| 500 |
_aДоп. тит. л.: Transistor technology. Ed. by H. E. Bridgers a.o. Princeton a. o., Nostrand co., 1958 _5RuMoRGB |
||
| 504 | _aБиблиогр. в конце глав. | ||
| 653 | _aნახევარგამტარული ხელსაწყოები | ||
| 653 | _aპარამეტრების გაზომვის მეთოდები | ||
| 700 | 1 |
_aИглицын, Михаил Ильич _eრედაქტორი |
|
| 942 |
_2udc _cBK |
||
| 999 |
_c152478 _d152477 |
||