000 00670nam a2200205 4500
999 _c485787
_d485785
003 Ge_NSL
005 20181120170226.0
008 181120s1984 fr ||||| |||| 00| 0 fre d
041 _afre
080 _a531
100 _aClaverie, Alain
_986591
245 _aContribution à l'observation de surfaces en microscopie électronique sous incidence rasante /
_cAlain Claverie.
264 _a[Toulouse],
_c1984.
300 _a106 p. :
_bfig.
504 _aBibliography: p. 105-106.
653 _aფიზიკა
653 _aთეორიული ფიზიკა
653 _aდისერტაციის თეზისები
942 _2udc
_cBK