| 000 | 00846nam a2200217 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 999 |
_c543865 _d543863 |
||
| 003 | Ge_NSL | ||
| 005 | 20201012110927.0 | ||
| 008 | 201012b se||||| |||| 00| 0 eng d | ||
| 041 | _aeng | ||
| 080 | _a543.4 | ||
| 100 |
_aGålnander, Björn _9175946 |
||
| 245 |
_aThin films and deposition processes studied by soft x-ray spectroscopy / _cBjörn Gålnander ; Uppsala universitet. Teknisk-naturvetenskapliga fakulteten. |
||
| 264 |
_aUppsala : _b[Uppsala universitet], _c 2001. |
||
| 300 | _a80 p. | ||
| 500 | _aThesis summary (Ph. D.)--Uppsala universitet, 2001. | ||
| 653 | _aქიმია | ||
| 653 | _aსპექტროსკოპია | ||
| 653 | _aრენტგენული სპექტროსკოპია | ||
| 710 |
_aUppsala universitet. Teknisk-naturvetenskapliga fakulteten. _9175949 |
||
| 942 |
_2udc _cBK |
||