000 01260nam a22002892i 4500
001 005586776
003 ELAR
005 20211222081900.0
008 121020s1967 ru ||||| |||||||| ||rus d
035 _a(RuMoELAR)1946-68-245250
040 _aRuMoRGB
_brus
_cELAR
_ercr
041 0 _arus
044 _aru
080 _a621.317.4
245 0 0 _aПроект стандарта на измерения статических свойств тонких магнитных пленок /
_cИТМ СССР АН СССР Институт точной механики и вычислительной техники Акад. наук СССР ; Б. М. Абакумов, В. В. Кобелев, Н. М. Саланский и др.
260 _aМосква :
_b[б. и.],
_c1967.
300 _a15 с. :
_bил. ;
_c22 см.
650 7 _2RKP
_9189535
650 7 _2RKP
_9189536
650 7 _2RKP
_9189537
653 _aელექტროტექნიკა
653 _aელექტროგამზომი ტექნიკა
700 _aАбакумов Б. А.
_eавтор
_9211931
700 _aКобелев В. В.
_eредактор
_9211932
700 _aСаланский Н. М.
_eредактор
_9211933
942 _2udc
_cBK
999 _c551517
_d551515