000 00421nam a22001217a 4500
008 240702s1981 fi ||||| |||| 00| 0 eng d
100 _aSilvennoinen, Raimo
_9296924
245 _aA technique for measuring transverse lens aberrations /
_c[by] Raimo Silvennoinen.
264 _aJoensuu :
_bUniversity of Joensuu,
_c1981.
653 _aფიზიკა
653 _aოპტიკა
653 _aლინზები
999 _c762090
_d762088