Secondary ion mass spectrometry, SIMS-II : proceedings of the 2nd (second) international conference : Stanford university, Stanford California USA, August 27-31, 1979 : Vol. 2 /
Secondary ion mass spectrometry, SIMS-II : proceedings of the 2nd (second) international conference : Stanford university, Stanford California USA, August 27-31, 1979 : Vol. 2 /
ed. by A. Benninghoven ... [et al.].
- Berlin [etc.] : Springer-Verlag, 1979.
ქიმია ანალიზური ქიმია სპექტრომეტრია სპექტრული ანალიზი რაოდენობრივი ანალიზი
ქიმია ანალიზური ქიმია სპექტრომეტრია სპექტრული ანალიზი რაოდენობრივი ანალიზი