Методы измерения параметров полупроводниковых приборов / Пер. с англ. Под ред. канд. физ.-мат. наук М. И. Иглицына.

Contributor(s):

Material type: Text

TextLanguage: Russian Original language: English Series: Полупроводниковые материалы и приборыPublication details: Москва : Оборонгиз, 1961.Description: 263 с. : чертSubject(s):

Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.

Holdings
Item type	Current library	Call number	Copy number	Status	Date due	Barcode
წიგნი	ეროვნული სამეცნიერო ბიბლიოთეკა 2 კორპ. 2, საცავი	621.315.592 (Browse shelf(Opens below))	ს-10245	Available		2017-299983

Previous	No cover image available			No cover image available	No cover image available	No cover image available	No cover image available	Next
Previous	621.315.592 Тугоплавкие алмазоподобные полупроводники /	621.315.592 Полупроводниковые фосфиды и арсениды кремния и германия /	621.315.592 Физико-химия материалов и процессов в микроэлектронике :	621.315.592 Методы измерения параметров полупроводниковых приборов /	621.315.592 Физика и химия соединений AIIBVI /	621.315.592 Полупроводники /	621.315.592 Полупроводники - германий и кремний /	Next

Доп. тит. л.: Transistor technology. Ed. by H. E. Bridgers a.o. Princeton a. o., Nostrand co., 1958 RuMoRGB

Библиогр. в конце глав.

There are no comments on this title.

to post a comment.