Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках / Л. Н. Александров, М. И. Зотов; Отв. ред. Л.С. Смирнов.
Material type:
TextLanguage: Russian Publication details: Новосибирск : Наука. Сиб. отд-ние, 1979.Description: 159 с. илSubject(s): Other classification: - В379.222,0
- В379.256,0
| Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
წიგნი
|
ეროვნული სამეცნიერო ბიბლიოთეკა 1 საცავი. 1 კორპ. | 539.67+621.315.592 (Browse shelf(Opens below)) | 2R554100 | შესამოწმებელია | 2022-38313 | ||
|
წიგნი
|
ეროვნული სამეცნიერო ბიბლიოთეკა 2 კორპ. 2, საცავი | 539.67+621.315.592 (Browse shelf(Opens below)) | ს-7091 | Available | 2017-278549 |
Библиогр.: с. 149-158 (188 назв.)
В надзаг.: АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.